最近，小編收到了許多關(guān)于芯片測試的咨詢，其中大部分涉及到芯片錫球剪切測試。在進(jìn)行錫球剪切測試時，剪切工具和測試樣品需要安裝在試驗(yàn)裝置上。在這個過程中，錫球?qū)⒂梢粋€方向平行于平面進(jìn)行剪切。然而，在定位裝置時，必須小心以避免損壞錫球

在這篇文章中，科準(zhǔn)測控小編將深入探討這一測試的關(guān)鍵內(nèi)容。在進(jìn)行錫球剪切測試時，剪切工具和測試樣品需要安裝在試驗(yàn)裝置上。在這個過程中，錫球?qū)⒂梢粋€方向平行于平面進(jìn)行剪切。然而，在定位裝置時，必須小心以避免損壞錫球。為了確保測試的準(zhǔn)確性和有效性，需要在一定范圍內(nèi)進(jìn)行剪切，包括足夠數(shù)量的焊料球和設(shè)備。這樣的設(shè)計旨在為適當(dāng)?shù)臏y試目的提供足夠的統(tǒng)計數(shù)據(jù)，并在考慮成本和生產(chǎn)方面達(dá)到限制?？紤]到失效分布、期望度、置信度以及其他相關(guān)參數(shù)，錫球樣品的數(shù)量可能會變化，例如22、30、45等，而設(shè)備的數(shù)量可能是3、5等。在進(jìn)行測試時，需要確保樣品數(shù)量足夠，以代表整體批次的特征。

在剪切力和/或失效模式方面，可能受到剪切速率、剪切工具支架以及剪切試驗(yàn)和焊球回流時間的影響。為了確保有效的比較試驗(yàn)結(jié)果，需要使用相同的剪切速率、剪切工具支架和回流時間進(jìn)行任何特定批次的測試。這有助于排除測試結(jié)果中可能出現(xiàn)的變量，從而更準(zhǔn)確地評估芯片錫球剪切性能。

一、常見問題：錫球的組成

在進(jìn)行芯片錫球剪切測試時，我們經(jīng)常收到關(guān)于錫球組成的咨詢。這種測試方法適用于各種焊接球組成，包括但不限于錫鉛、錫銀銅等，以及不同結(jié)構(gòu)類型，如均質(zhì)合金焊料、錫涂層有機(jī)或金屬芯等。

這種廣泛適用性使得該測試方法能夠滿足不同材料和結(jié)構(gòu)的焊接球的評估需求。不同的焊接球組成可能在剪切測試中展現(xiàn)出不同的性能特征，因此該測試方法具有靈活性，可用于評估多種焊接材料的質(zhì)量和性能。

二、常用設(shè)備推薦

推拉力測試機(jī)

多功能焊接強(qiáng)測試儀（推拉力測試機(jī)）是專為微電子引線鍵合后的焊接強(qiáng)度、焊點(diǎn)與基板粘接力測試及失效分析領(lǐng)域設(shè)計的動態(tài)測試儀器?？蛇M(jìn)行晶片推力、金球推力、金線拉力等常見測試，采用高速力值采集系統(tǒng)。根據(jù)測試需求更換測試模組，系統(tǒng)自動識別模組量程，靈活適用于不同產(chǎn)品測試。

三、試驗(yàn)方法

步驟一、前提條件

根據(jù)供應(yīng)商和客戶協(xié)議的要求，樣品器件應(yīng)通過適當(dāng)?shù)幕亓骱盖€后再進(jìn)行錫球剪切試驗(yàn)。

回流前的器件潮濕不做要求，但如果在錫球連接區(qū)發(fā)生嚴(yán)重破壞，器件回流前應(yīng)進(jìn)行烘烤。

記錄和保存回流的焊料球的總數(shù)，以確保與試驗(yàn)樣品的比較是一致的。

步驟二、夾具設(shè)計

夾具的設(shè)計必須防止試驗(yàn)設(shè)備在所有軸上的運(yùn)動，并確保設(shè)備平面保持平行于刀具方向。

夾具應(yīng)保持樣品固定，沒有變形或扭曲。

硬性連接的夾具特別適用于高速剪切試驗(yàn)，以最小化位移或變形，避免激發(fā)測試設(shè)備的頻率共振。

步驟三、夾緊裝置

使用定制夾具，可容納多個器件尺寸。

夾緊裝置可以采用分帶或載體設(shè)備的形式。

步驟四、樣品制備

目視檢查錫球，確保它們具有正確的形狀，沒有污染物或殘留的助焊劑。

根據(jù)特定剪切試驗(yàn)儀器的規(guī)定參數(shù)，可能需要從樣品中移除相鄰被測球。

如果相鄰的錫球需移除，確保剩余的焊錫高度足夠低，以確保剪切工具在整個路徑中不接觸殘留焊錫。

步驟五、剪切工具

剪切工具應(yīng)由淬火鋼、陶瓷或其他非柔軟材料構(gòu)成。

剪切工具的寬度應(yīng)注意，以確保在剪切試驗(yàn)中不會干擾相鄰焊球。

剪切工具相對于器件的平面應(yīng)為90°±5°。

對齊剪切工具，使其接觸焊料球。

剪切工具支架應(yīng)不大于錫球高度的25％（10％優(yōu)先）。

步驟六、剪切刀具磨損檢查

定期檢查剪切刀具的磨損情況，過度磨損時需更換。

磨損特性（刻痕、鑿槽、圓角等）對測試結(jié)果可能產(chǎn)生影響，光學(xué)檢測下觀察到的磨損高度大約比測試錫球高度的10％。

步驟七、測試步驟

將樣品固定在夾具上，確保平面平行于刀具方向。

確保剪切工具對齊并接觸焊料球。

進(jìn)行剪切測試，記錄剪切力和觀察失效模式。

根據(jù)需要更換剪切工具。

重復(fù)測試，確保可靠的結(jié)果。

步驟八、數(shù)據(jù)分析

分析剪切力數(shù)據(jù)，比較不同樣品和條件之間的差異。

觀察失效模式，評估錫球剪切性能。

根據(jù)測試結(jié)果提出改進(jìn)建議或優(yōu)化方案。

以上就是小編介紹的芯片錫球剪切測試的內(nèi)容了，希望可以給大家?guī)韼椭∪绻€想了解更多關(guān)于芯片焊錫視頻、推拉力測試機(jī)怎么使用、靜壓怎么設(shè)置、鉤針、廠家和中標(biāo)等問題，歡迎您關(guān)注我們，也可以給我們私信和留言，科準(zhǔn)測控技術(shù)團(tuán)隊(duì)為您免費(fèi)解答！